МЕТАЛЛОГРАФИЧЕСКИЙ МИКРОСКОП AXIO LAB.A1, AXIO LAB.A1, CARL ZEISS, МИКРОСКОПЫ ОТРАЖЕННОГО СВЕТА, (АРТ 111)

МЕТАЛЛОГРАФИЧЕСКИЙ МИКРОСКОП AXIO LAB.A1, AXIO LAB.A1, CARL ZEISS, МИКРОСКОПЫ ОТРАЖЕННОГО СВЕТА, (АРТ 111)
Наличие: Предзаказ

Описание

Возможные варианты комплектации:
  • осветитель отраженного света:
    • галогенная лампа: 12В 50Вт
  • предметный столик:
    • механический предметный столик, перемещение 75х30мм, управление правостороннее, препаратодержатель с 2 прижимными лапками
  • наблюдение:
    • бинокулярная насадка с углом наклона 30 градусов
    • бинокулярная насадка с углом наклона 20 градусов
    • эргономичная бинокулярная насадка с изменяемым углом наклона 8-33 градуса
    • бинокулярная насадка с изменяемым углом наклона 8-33 градуса с регулировкой высоты наблюдения на 50мм
    • тринокулярная насадка с делением светового потока 50/50
    • тринокулярная насадка с делением светового потока 100:0/0:100
    • эргономичная тринокулярная насадка с изменяемым углом наклона 5-30 градусов с делением светового потока 100:0/0:100
    • эргономичная тринокулярная насадка с углом наклона 15 градусов с делением светового потока 50/50
    • тринокулярная насадка с углом наклона 20 градусов с регулировкой высоты наблюдения и делением светового потока 100:0/0:100
  • окуляры:
    • 10х с линейным полем 20мм
    • 10х с линейным полем 22мм
    • 16х с линейным полем 16мм
    • резиновые съемные наглазники
    • окулярные микрометры и сетки
  • адаптер для установки камеры:
    • адаптер 60N-C 1x
    • адаптер 60N-C 0.63x
    • адаптер 60N-C 0.5x
  • светоделительные элементы:
    • турель для установки 4 светоделительных элементов
    • блок ACR для реализации светлого поля в отраженном свете
    • блок ACRдля реализации темного поля в отраженном свете
    • блок DIC/Pol ACR для реализации дифференциально-интерференционного и поляризационного контраста в отраженном свете с фиксированным скрещенным положением поляризатора и анализатора
    • блок DIC/Pol red I Lambda ACR для реализации поляризационного контраста в отраженном свете с фиксированным положением поляризатора и анализатора с лямбда–компенсатором красным 1-го порядка
    • блок C-DIC/TIC ACR для реализации методов кругового дифференциально-интерференционного контраста (C-DIC) и TIC
  • объективы:
    • безрефлексные планахроматы для работы по методу светлого поля, поляризации, DIC и C-DIC EC Epiplan: 5x/0.13; 10x/0.2; 20x/0.4; 50x/0.7; 100x/0.8
    • безрефлексные планахроматы для работы по методу светлого поля, темного поля, поляризации, DIC и C-DIC EC Epiplan HD: 5x/0.13; 10x/0.2; 20x/0.4; 50x/0.7; 100x/0.8
    • безрефлексные планполуапохроматы повышенного разрешения и контраста для работы по методам светлого и темного поля, поляризации, DIC и C-DIC EC Epiplan-Neofluar: 5x/0.13; 10x/0.25; 20x/0.5; 50x/0.8; 100x/0.9
    • безрефлексные планполуапохроматы повышенного разрешения и контраста для работы по методам светлого и темного поля, поляризации, DIC и C-DIC с большим рабочим расстоянием LD EC Epiplan HD DIC: 20x/0.22 рабочее расстояние 12мм; 50x/0.55 рабочее расстояние 9мм; 100x/0.75 рабочее расстояние 4мм

 

Характеристики

МЕТАЛЛОГРАФИЧЕСКИЙ МИКРОСКОП AXIO LAB.A1, AXIO LAB.A1, CARL ZEISS, МИКРОСКОПЫ ОТРАЖЕННОГО СВЕТА, (АРТ 111)
Модель: AXIO LAB.A1
Производитель: CARL ZEISS

Отзывы


Написать отзыв

Метки: МЕТАЛЛОГРАФИЧЕСКИЙ МИКРОСКОП AXIO LAB.A1, AXIO LAB.A1, CARL ZEISS, МИКРОСКОПЫ ОТРАЖЕННОГО СВЕТА